Skip to content

Latest commit

 

History

History
36 lines (27 loc) · 2.97 KB

readme.md

File metadata and controls

36 lines (27 loc) · 2.97 KB

Измерение статических характеристик полупроводникового диода

Данный репозиторий содержит составленный отчет и материалы к лабораторной работе на кафедре квантовой радиофизики и электроники Университета им.М.Ю. Лобачевского.

Выдержка из методических материалов к работе:

Физика контактных явлений служит основой разработки важнейших структурных элементов подавляющего большинства приборов современной микроэлектроники. <...> При этом речь пойдет о контактах внутри одного и того же полупроводникового кристалла между областями с разным типом проводимости. Физические свойства подобных контактов ши- роко используются для выпрямления тока и лежат в основе работы базовых элементов целого ряда полупроводниковых сверхвысокочастотных устройств и быстродействующих интегральных схем, а также приборов полупроводни- ковой оптоэлектроники.

Работу выполнили студенты 4-го курса фундаментальной радиофизики радиофизического факультета:

Disclaimer: Авторы не несут ответственности за некорректные формулировки, выводы, результаты и прочее, повлекшее за собой не сдачу, или неудовлетворительный результат сданной работы. Материалы, приведенные выше, предназначены для ознакомления.

Структура

Отчет набран в издательской системе LaTeX. Основной файл отчета находится в корне репозитория, и имеет расширение .pdf.

Репозиторий имеет следующую структуру:

  • data - Содержит набор экспериментальных данных и протоколов если такие необходимы
  • fig - Содержит изображения (схемы, графики, фотографии) (png, jpeg и др.).
  • text - Содержит преамбулу для основного файла верстки, а также титульный лист.