#概述# 根据3A2000和3A3000的已有出错情况对3A4000测试片进行测试。
#已有出错pattern#
-3A2000_RF44:
- 低压下对4W4R远端近127项等的bypass写入操作，同时增加WBL上的反向耦合;
- 高压下对GRBL的预充，出错电压>1.40V（预充不充分）;
-3A2000_CP35:
- W2端口写入出错(低压，写0更难);
-3A3000_RF44:
- 地址变化时的Glitch，最差情况0x00->0x10;（低压glith增大，高压更容易错误放电）
- 修正地址Glitch时，GRBL延迟增加导致输出传输门相对打开时间不足（读F，远端，高压变差）;
-3A3000_CP35:
- W2低压写入存在问题。(低压差，测试中目前需要<0.8V出错）;
-3A4000TC_RF44:
- 测试片中，R0-W2的bypass写入成功，但输出出错。(RPC的Glitich导致,R0-W2最差)
#测试项#
- RF44 :
- 预充
- 写入（bypass+耦合）
- 读取Glitch
- 读取远端时序失配
- RF86 :
- 预充
- 写入（bypass+耦合）
- 读取Glitch
- 读取远端时序失配
- CP35 :
- 预充
- 写入（耦合）
- 读取Glitch
- 读取远端时序失配
- W2写入失败
- CP25 :
- 预充
- 写入（耦合）
- 读取Glitch
- 读取远端时序失配
- CAM464V :
- 预充
- 写入（bypass+耦合）
- 读取Glitch
- 读取远端时序失配